電子顕微鏡の製品一覧

Phenom ParticleX TC 異物自動解析SEMは、自動車製造における異物や不純物であるコンタミネーションの検出からサイズ計測、元素分析までを完全自動化。従来の重量分析では異物の発生源を特定することができませんでしたが、ParticleX TCは異物ごとにサイズ、形状、組成データを取得し、個々の異物の発生源を捉えます。これにより、不具合の原因究明と製品の品質向上を可能にしました。詳細はURLを参照してください。

日本電子株式会社のJEM-1400Flash 電子顕微鏡は、高感度sCMOSカメラや超広視野モンタージュシステム、光学顕微鏡画像とのリンク機能を備えた、新しい透過電子顕微鏡です。120kVの加速電圧を利用し、スループットが良く、ハイスピードでデータを取得することができます。特長は、瞬Flashカメラと呼ばれる高感度カメラ、超広視野モンタージュシステム、光学顕微鏡画像リンク機能、ピュアホワイトカラーとLEDランプのコラボレーションなどです。

卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』は、半導体、電子部品分野だけでなく、ライフサイエンスや生物分野でも活用可能です。試料の観察や元素分析ができるため、多岐にわたる分野で重要な観察手段となっています。さらに、導電性のある試料は通常/導電体モードで、導電性のない試料や生物を含む試料は表面・通常/帯電防止モードで観察できるため、幅広い観察ニーズにも対応可能です。

日本電子株式会社のCRYO ARM 300 IIは、タンパク質など電子線照射に弱い試料の観察に特化したクライオ電子顕微鏡です。顕微鏡の安定性とスループットを向上させると同時に、操作性もシンプル。サンプルのスクリーニングから画像データ取得まで一体化し、ユーザーに合わせた運用が可能です。短時間で簡単に高品質な顕微鏡写真を取得することができます。

『NaioAFM』は、表面形状の測定に必要な要素技術を標準搭載しつつ、装置のセットアップやカンチレバー交換が簡単に行えるなど、機能性と操作性を両立したコンパクトタイプの原子間力顕微鏡です。防塵・防風用シールドや防振機構も標準搭載しており、高分解能トップビュー光学カメラや場所決め用のサイドビュー観察も可能となっております。また、ニーズに応じて測定モードの追加も可能です。

『AFSEM』は、原子間力走査型電子顕微鏡です。SEMとSPMをin-situで測定することが可能であり、試料を取り出す必要もありません。AFM、MFM、KPFMなどにも対応しています。カンチレバーの交換後の調整は不要であり、お手持ちのSEMやFIBに取り付け可能です。

パソコンや本体モニタで観察することができる顕微鏡です。PC画面に映し出すことで、授業や会議時に大人数で同時に観察が可能です。また、明るさの調節や静止画・動画の保存、スタンドの使用など、簡単で便利な機能も搭載。

空間分解能と分析性能を向上させるとともに、多目的な使い方における操作性を考慮した新しい操作システムを搭載し、電子顕微鏡の初心者から熟練者まで使いやすい電子顕微鏡です。スマートな外観や省エネルギー化を実現し、CO2削減にも貢献します。特長として、スマートデザイン、Quad-Lens condenser system、Advanced Scan system、Pico stage drive、自動ホルダー挿入・取り出し装置、ECOモードを標準搭載。

日本電子株式会社が開発した走査電子顕微鏡。最高分解能1 nm、最大照射電流300 nAを備えており、観察や分析に余裕を持たせてくれます。光学像を拡大すればSEM像に変換でき、観察と分析が一体化しているのが特長です。また、測定後のレポート作成も簡単であり、信号深さ表示や広域観察・分析のためのモンタージュ機能も搭載。JSM-IT700HRは大きな試料室を持ち、誰でも自由に測定が可能です。

「液晶付きデジタル顕微鏡」は、スネークライトを搭載し、ハレーションを軽減する製品です。最大200倍まで拡大可能で、静止画・動画撮影も可能。コンパクトサイズで観察時スペースを取らず、目の疲れを軽減します。

Anytyシリーズのデジタル顕微鏡専用のストラップホルダーです。ワイヤレスデジタル顕微鏡、有線顕微鏡、WIFI接続デジタル顕微鏡のどれでも使用できます。長時間の観察時や手が滑りやすい状況でも、顕微鏡を落下から守ることが可能。本体に傷をつける心配もなく、安心して使用することができます。

デジタル顕微鏡の操作時に発生する手ブレや手の疲れを軽減することができる革新的な製品です。360度調整可能な角度と微調整機能を備えており、精密な観察ができます。無料デモ機の受付も行っていますので、ぜひお問い合わせください。