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日本カンタム・デザイン株式会社
『AFSEM』
SEMとAFMを同時測定可能!AFSEMで試料を取り出すことなく中で測定しましょう。
『AFSEM』
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ネジアイコン製品概要

『AFSEM』は、原子間力走査型電子顕微鏡です。SEMとSPMをin-situで測定することが可能であり、試料を取り出す必要もありません。AFM、MFM、KPFMなどにも対応しています。カンチレバーの交換後の調整は不要であり、お手持ちのSEMやFIBに取り付け可能です。

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SEMとAFMを同時測定可能!AFSEMで試料を取り出すことなく中で測定しましょう。
製品概要

『AFSEM』は、原子間力走査型電子顕微鏡です。SEMとSPMをin-situで測定することが可能であり、試料を取り出す必要もありません。AFM、MFM、KPFMなどにも対応しています。カンチレバーの交換後の調整は不要であり、お手持ちのSEMやFIBに取り付け可能です。

日本カンタム・デザイン株式会社
設立年:2010年 資本金:6000万円
マップアイコン 東京都豊島区高松1-11-16西池袋フジタビル2階
業種 試験・分析・測定

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