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株式会社フィッシャー・インストルメンツ
X-RAY XDV-μ WAFER
ウェハーの膜厚測定と素材分析が簡単にできる蛍光X線測定装置!
X-RAY XDV-μ WAFER
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『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計されたモデルで、高精度で高分解能な検出感度を実現しています。ユーザーフレンドリーな構造で再校正に必要な時間や労力を大幅に削減し、簡単に膜厚測定と素材分析が可能です。

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ウェハーの膜厚測定と素材分析が簡単にできる蛍光X線測定装置!
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『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計されたモデルで、高精度で高分解能な検出感度を実現しています。ユーザーフレンドリーな構造で再校正に必要な時間や労力を大幅に削減し、簡単に膜厚測定と素材分析が可能です。

株式会社フィッシャー・インストルメンツ
マップアイコン 埼玉県草加市神明1丁目9番16号
業種 試験・分析・測定

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