『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計されたモデルで、高精度で高分解能な検出感度を実現しています。ユーザーフレンドリーな構造で再校正に必要な時間や労力を大幅に削減し、簡単に膜厚測定と素材分析が可能です。
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計されたモデルで、高精度で高分解能な検出感度を実現しています。ユーザーフレンドリーな構造で再校正に必要な時間や労力を大幅に削減し、簡単に膜厚測定と素材分析が可能です。
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