株式会社フィッシャー・インストルメンツの蛍光X線分析装置「X-RAY XDLM 237」は、電子部品やメッキ加工品の膜厚測定や素材分析が可能です。品質管理や受入検査、生産管制などに適しており、高精度かつ安定性のある測定ができます。さらに、小さな測定スポットでも高いカウント数が得られ、多機能な自動測定も可能です。詳細はPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
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