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CCTECH Japan
製品概要CCTECH Japanの半導体マクロ検査装置（iFocus)は、半導体ウェハーの検査を効率化します。特許取得のOTF(On the Fly)技術を使用し、明暗視野を同時に撮像することにより、検査工程にかかる時間を半分に短縮します。さらに、３Dの検査も可能で、WLSCPパッケージ等に使用されるバンプのコプラナリティの検査も可能です。
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CCTECH Japanの半導体マクロ検査装置（iFocus)は、半導体ウェハーの検査を効率化します。特許取得のOTF(On the Fly)技術を使用し、明暗視野を同時に撮像することにより、検査工程にかかる時間を半分に短縮します。さらに、３Dの検査も可能で、WLSCPパッケージ等に使用されるバンプのコプラナリティの検査も可能です。
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