マイグレーション現象から材料開発段階の絶縁特性評価まで、幅広い用途に対応する絶縁劣化・特性評価テスタです。独自開発のSMU計測ボードにより、業界最高水準の精度と高速測定を実現しています。印加電圧の違う計測ボードを自由に選択できるため、さまざまな用途に対応可能です。微小電流計を備えた全CHで、絶縁抵抗値を連続かつ高速20msecで測定し、イオンマイグレーション現象を正確に捉えます。さらに、高電圧ユニットを使用することで最大10kVまでの電圧印加で絶縁評価が可能です。