株式会社アイテスの『ICの不良解析』は、不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から物理解析までを一貫して対応します。発光解析/OBIRCH解析や層剥離/サンプル加工、PVC解析、拡散層エッチング、sMIM解析などの解析手法を提供しています。
株式会社アイテスの『ICの不良解析』は、不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から物理解析までを一貫して対応します。発光解析/OBIRCH解析や層剥離/サンプル加工、PVC解析、拡散層エッチング、sMIM解析などの解析手法を提供しています。
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