当社の『温調システム』は、電子機器信頼性テスト環境の熱問題を解決するために開発されました。サーマルステージを使用してサンプルを温調し、熱伝導による温度変化を実現。温調ステージと無風恒温槽の2つのタイプがあり、お客様の要望に応じてカスタマイズも可能。温度範囲は-55℃から+150℃まで対応しております。
当社の『温調システム』は、電子機器信頼性テスト環境の熱問題を解決するために開発されました。サーマルステージを使用してサンプルを温調し、熱伝導による温度変化を実現。温調ステージと無風恒温槽の2つのタイプがあり、お客様の要望に応じてカスタマイズも可能。温度範囲は-55℃から+150℃まで対応しております。
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