電気メッキ産業やプリント回路基板産業における品質管理に適した測定装置、『PHASCOPE PMP10』は、さまざまな基板の金属皮膜の測定が可能な渦電流位相式膜厚計です。渦電流位相式を採用しており、粗い表面や小型部品、スルーホール内の銅メッキなどの膜厚測定にも適しています。正確な測定を行い、プローブが試料の表面に密着しなくても測定が可能です。鉄上のニッケル層の膜厚測定にも適しており、データ転送や統計処理が可能なFischer Data Centerソフトも付属しています。