SysComのナノセブンは非接触で迅速なナノ表面粗さ・形状計測を提供する装置です。光ヘテロダイン干渉計測を利用し、高さ方向0.1ナノの高精度な測定が可能です。短縮された計測時間や防振台不要により効率的な全数検査が可能。また、低価格で広範囲の計測ができ、試料対象物への前処理や真空は不要となっております。
SysComのナノセブンは非接触で迅速なナノ表面粗さ・形状計測を提供する装置です。光ヘテロダイン干渉計測を利用し、高さ方向0.1ナノの高精度な測定が可能です。短縮された計測時間や防振台不要により効率的な全数検査が可能。また、低価格で広範囲の計測ができ、試料対象物への前処理や真空は不要となっております。
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