低分子シロキサンは、電子部品の接点周囲に存在すると接点障害を引き起こすことが知られています。当社では、HS-GCMSによるアウトガス定量分析を提供しており、使用している電子部品の周辺に低分子シロキサンを発生させる部材の有無や発生量を分析することができます。シリコーン系粘着テープのHS-GCMS分析も行っております。
低分子シロキサンは、電子部品の接点周囲に存在すると接点障害を引き起こすことが知られています。当社では、HS-GCMSによるアウトガス定量分析を提供しており、使用している電子部品の周辺に低分子シロキサンを発生させる部材の有無や発生量を分析することができます。シリコーン系粘着テープのHS-GCMS分析も行っております。
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