新しい技術により、バウンダリスキャンテストに必要な治具を使用する代わりに、フライングプローブを利用する方法を開発しました。これにより、バウンダリスキャン規格に適合しているICと、そうでないICや受動部品など、異なる規格の機器も検査できるようになります。このようにして、デジタルとアナログ回路の両方を一括検査することができるため、検査の効率が向上が可能です。また、ICT（In-Circuit Test）とBST（Boundary Scan Test）の相互補完により、新たな価値を創造します。